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理工学書/専門書
JEC
一般書
月刊 電気計算 2025年8月号
[特集]AI検査技術の動向
AI検査とは、画像やセンサのデータをAIで分析し、製品や設備の異常を自動で検出する技術である。
近年はハードウエア性能の向上や開発ツールの充実もあり、ディープラーニングの進化とともに精度が大きく向上し、さまざまな分野での活用が進んでいる。品質管理の効率化や人手不足の解消にも寄与することから、その重要性は今後さらに高まると考えられる。
今号では、ディープラーニングを用いた外観検査システム、鉄道設備の保守に活用されるAI、超音波を用いた非破壊検査のAI 技術について紹介する。
1,760円(税込)
資格書
1995年制定
JECは、電気学会の電気規格調査会によって制定される団体規格です。
ここの規格には一連の番号が付けられ、必要に応じて改訂が行われ技術進歩に合わせた内容になっています。
JEC-174B(1972)の改訂
1 適用範囲
2 用語の意味
一般用語
応動機構に関する用語
接点および出力に関する用語
応動および特性に関する用語
3 使用状態
4 種類・定格・標準値
種類および階級
定格
標準値
準標準値
5 構造
6 性能・試験・検査
試験・検査項目
試験・検査条件
標準試験条件
合成値に応動する継電器の試験中入力電圧印加方法
動作値
性能
試験・検査
復帰値
動作時間
復帰時間
自己加熱特性
温度特性
周波数特性
制御電源電圧特性
ひずみ波電圧特性
復帰総合特性
7 表示
解説