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理工学書/専門書
JEC
一般書
月刊 電気計算 2025年8月号
[特集]AI検査技術の動向
AI検査とは、画像やセンサのデータをAIで分析し、製品や設備の異常を自動で検出する技術である。
近年はハードウエア性能の向上や開発ツールの充実もあり、ディープラーニングの進化とともに精度が大きく向上し、さまざまな分野での活用が進んでいる。品質管理の効率化や人手不足の解消にも寄与することから、その重要性は今後さらに高まると考えられる。
今号では、ディープラーニングを用いた外観検査システム、鉄道設備の保守に活用されるAI、超音波を用いた非破壊検査のAI 技術について紹介する。
1,760円(税込)
資格書
1990年制定
JECは、電気学会の電気規格調査会によって制定される団体規格です。
ここの規格には一連の番号が付けられ、必要に応じて改訂が行われ技術進歩に合わせた内容になっています。
1 適用範囲
2 用語の意味
3 使用状態
常規使用状態
環境条件
交流入力条件
特殊使用状態
4 構造
構造一般
接続端子
配線
保護開閉器
5 定格
使用定格
交流入力定格
交流出力定格
6 方式
変換回路方式
冷却方式
装置方式および冗長方式
7 性能
特性
交流入力側特性
直流出力側特性
交流出力側特性
騒音
温度上昇
効率
耐電圧
絶縁抵抗
雑音
雑音余裕値
バイパス回路用半導体電力スイッチ
機能
保護機能
バイパス機能
出力回路切換機能
監視計測機能
警報機能
その他の機能
8 試験・検査
試験の種類
試験・検査項目および試験・検査順序
試験方法一般
試験の状態
測定器など
基本試験回路原理図
試験方法
9 表示および製品の呼び方
表示
製品の呼び方
参考
UPSの基本システム
UPS二次回路の保護協調