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理工学書/専門書
JEC
一般書
月刊 電気計算 2025年8月号
[特集]AI検査技術の動向
AI検査とは、画像やセンサのデータをAIで分析し、製品や設備の異常を自動で検出する技術である。
近年はハードウエア性能の向上や開発ツールの充実もあり、ディープラーニングの進化とともに精度が大きく向上し、さまざまな分野での活用が進んでいる。品質管理の効率化や人手不足の解消にも寄与することから、その重要性は今後さらに高まると考えられる。
今号では、ディープラーニングを用いた外観検査システム、鉄道設備の保守に活用されるAI、超音波を用いた非破壊検査のAI 技術について紹介する。
1,760円(税込)
資格書
1980年制定
JECは、電気学会の電気規格調査会によって制定される団体規格です。
ここの規格には一連の番号が付けられ、必要に応じて改訂が行われ技術進歩に合わせた内容になっています。
1 適用範囲
2 一般規格
3 動作時間誤差階級
4 標準値
標準電圧
標準最大整定時間
5 動作時間誤差
誤差
動作時間整定による誤差
誤差の変動
6 入力瞬断特性
7 慣性特性
8 釈放時間特性
9 復帰時間特性
10 入力変動特性
11 温度特性
12 周波数特性
13 接点
接点回路の接触抵抗
接点容量
14 特性試験
形式試験
受入試験
15 表示
説明書